Aufsatz in einer Fachzeitschrift

Deep single step vertical ICP--RIE etching of ion beam sputter deposited SiO2/Si multilayer stacks



Details zur Publikation
Autor(inn)en:
Messow, F.; Welch, C.; Eifert, A.; Ang, W.; Hoe, N.; Kusserow, T.; Hillmer, H.

Publikationsjahr:
2014
Zeitschrift:
Microelectronic Engineering
Seitenbereich:
70-73
Jahrgang/Band :
113
ISSN:
0167-9317




Schlagwörter
ICP--RIE etching, Ion beam sputter deposition, SiO2/Si multilayer stack, Thin film

Zuletzt aktualisiert 2022-20-04 um 14:28