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Limitation of test sample arrangements according to IEC 60243-1: Electrical strength of insulating materials - Test methods



Details zur Publikation
Autor(inn)en:
Wels, S.; Obst, J.; Claudi, A.; Böttge, B.; Bernhardt, R.; Klengel, S.
Herausgeber:
IEEE International Conference on Dielectrics 2018
Verlag:
IEEE Xplore
Verlagsort / Veröffentlichungsort:
Budapest

Publikationsjahr:
2018
Seitenbereich:
1-4
Buchtitel:
IEEE International Conference on Dielectrics 2018




Autor(inn)en / Herausgeber(innen)

Zuletzt aktualisiert 2022-20-04 um 14:45