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Extended approach to selecting a project-specific reliability growth model
Details zur Publikation
Autor(inn)en: | Krini, J.; Krini, A.; Krini, O.; Börcsök, J. |
Herausgeber: | IEEE |
Publikationsjahr: | 2016 |
Seitenbereich: | 1179-1184 |
Buchtitel: | 2016 39th International Convention on Information and Communication Technology, Electronics and Microelectronics (MIPRO) |
ISBN: | 978-953-233-086-1 |
DOI-Link der Erstveröffentlichung: |
